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기업정보

ISC (095340) ISC Co.,Ltd.
반도체 테스트 소켓 제조업체
코스닥 / IT 하드웨어
기준 : 전자공시 반기보고서(2014.06)


II. 사업의 내용



1. 사업의 개요


(주)아이에스시와 그 종속회사인 (주)비제이코리아, ISC International INC는 서로 다른 사업을 제공하는 사업단위로 별도로 운영되고 있으며, JMT와는 동일한 소켓 제조업을 영위하고 있습니다.  각 사업부문별 내용은 다음과 같습니다.

가. 사업부문별 요약 재무현황
                                                                                                  (단위 : 백만원)

사업부문 2014년 반기 2013년 2012년
매출액 영업이익 매출액 영업이익 매출액 영업이익
제조 36,324 10,093 55,306 19,720 51,683 18,224
외식 906 84 1,518 267 1,372 188
중개 635 184 - 277 - -
37,865 10,361 56,824 20,264 53,055 18,412

주) 14. 반기현황은 사업단위간 내부거래 제외전 자료입니다.


나. 사업부문별 현황

(1) 제조 사업부

1) 업계의 현황

① 산업의 연혁 및 성장과정
   당사가 속해있는 산업은 반도체 및 전자부품 검사장비의 핵심소모부품인 후(後) 공정의 테스트 소켓을 제공하는 영역으로 반도체 테스트 소켓이란  삼성전자 등에서 개발, 제조되어 스마트폰, 자동차, IT, BT, 각종 가전제품 등에 사용되는 반도체 IC의 Final Test시 양품 또는 불량인지를 검사하는 데 사용되는 소모성 부품으로 신규 반도체 IC 개발 시 Test용 컨택터로 동반하여 개발되어야 하는 소량 다품종의 제품이며 Quality, Cost, Delivery, Speed 등 혁신적인 기술력이 요구되는 반도체를 포한한 모든 전자부품 제조공정에 필수요소 산업입니다.

② 산업의 특성
   반도체 산업의 특징은 생산설비에 대한 대규모 투자와 고집적도 및 고속처리의 대응에 따른 짧은 라이프사이클입니다. 또한, 끊임없는 제품단가의 하락으로 원가절감도 중요한 과제로 반드시 해결해야 합니다. 이러한 반도체 산업의 특징으로 우리나라의 경우 지속적인 기술개발과 대규모 설비 투자가 가능한 대기업에서 하지 않으면 경쟁력을 갖기가 어렵습니다. 반도체 및 반도체 관련 산업은 미국 등의 선진과학기술의 발달과 더불어, 현재는 거의 모든 전자제품과 그 연관성이 높습니다.

③ 국가경제에서의 중요성
   컴퓨터가 가져온 정보의 혁명 속에서 반도체와 그 관련 산업은 폭발적인 증가추세를 보였으며, 그런 기회를 놓치지 않은 우리나라를 비롯한 일본, 대만 등의 아시아권 국가들이 현재 세계시장에서 수위를 점하고 있습니다. 이런 배경으로 전 세계적 추세인초고속 정보화 사회의 실현과 국가경쟁력의 강화차원에서 우리나라에서는 21세기 첨단 핵심 산업으로 반도체관련 산업과 Mobile 산업이 국가 산업 경쟁력의 선두를차지하고 있으며, 해당 관련 기업들은 국가적인 지원 아래 최선의 노력을 경주하고 있습니다.

2) 사업부 현황

① 수급상황
   반도체 IC TEST 소켓산업은 반도체 핵심 부품산업으로서 전자산업동향에 민감합니다. 더욱이, 전자산업을 크게 구분하여 가전, 정보기기, 통신기기, 전장품, 정밀계측기기 등으로 볼 때 주 생산품의 비중이 어떤 품목이냐에 따라서 그 차이는 더욱 크다고 볼 수 있습니다. 즉, 가전이나 정보기기는 전체적인 경기 동향에 매우 민감하여 경기추이가 전체시장 경기와 동행한다고 할 수 있겠지만, 통신 및 반도체, 각종 시스템기기의 경우는 기간산업으로써 지속적이고 비교적 안정된 경기 동향을 보여줍니다. 최근 가전부문의 국제적 대외신인도 향상에 따른 수출경쟁력 강화 외에도 당사가 주력하고 있는 반도체 시장이 2016년까지 연평균 5.8%(국내시장은 연평균 9.5%) 성장을 예상하고 있으며, 특히 휴대폰, 스마트폰 및 테블릿pc의 경우는 2016년까지 각각 연평균 13.6%, 16.3%, 22.2%  증가할 것으로 예상(iSuppli, Gartner 2012) 되는 등 반도체 IC TEST 소켓장치의 수요도 꾸준히 증가할 전망입니다.

② 자원조달상황
   당 부문의 주요 원재료는 국내에서 조달하고 있으며, 조달에 큰 어려움은 없습니다

③ 경쟁상황
  - 경쟁형태 및 진입 난이도
비메모리 반도체 부분과 FLASH 메모리, SDRAM등의 성장이 지속됨에 따라 테스트 소켓의 수요는 계속 창출되고 있습니다. 최근 국내에도 반도체 테스트 서비스를 전문으로 하는 테스트 하우스의 설립이 꾸준하게 진행되고 있어 이 또한 테스트 소켓의 새로운 시장이 되고 있습니다. 국내동종업체는 2~3개사가 있지만 회사마다 각기 다른 두께와 폭의 제품을 생산하기 때문에 동종제품에 의한 경쟁관계이기 보다는 유사제품을 생산하는 과점적 또는 제품에 따라서 독점형태를 띠고 있습니다. 또한, 선진국들의 견제 우려가 심화되고 있으나, 차세대 초고속 특성에 대응하여 개발된 당사의 제품 특성, 높은 품질과 빠른 납기, 그리고 경쟁력 있는 가격으로 국내는 물론 해외에서도 시장을 넓혀 나가고 있습니다.
현재, 국내에는 소모성 및 부자재 성격의 사업이 고부가가치에도 불구하고, 첨단장비의 지속적인 설비투자와 지속적인 연구개발이 이루어져야 합니다. 또한, 주문자 생산방식으로 운영되어야 하기 때문에 동 사업에 진입의 난이도는 높습니다.

  - 테스트 소켓의 경쟁력
ㄱ. 품질 경쟁력
  당사는 Silicone Rubber를 기반으로 하는 반도체 IC 테스트 소켓을 국내 최초로 개발, 세계 최초로 양산화에 성공했으며, 세계 최고의 테스트 소켓 개발 및 생산기술을 가진 Silicone Rubber 테스트 소켓 사업부분 세계 1업체이며, 지속적인 연구개발 투자를 통하여 현재는 어떤 경쟁 제품품질을 최우선으로 하는 국내의 삼성전자 및 SK하이닉스를 비롯하여, 외국의 유수한 반도체 업체들이 ISC 테스트 소켓을 채택하여 사용하고 있습니다.

ㄴ. 가격 경쟁력
Pin 단위 제조 후 Housing에 각 Pin을 삽입 한 Block(set)으로 가격이 결정되는 일반적인 Pin Type 테스트 소켓과는 다르게 Block 단위로 1회에 제조되는 당사 제품은 경쟁업체에 비하여 충분한 가격경쟁력을 보유하고 있으나, 지속적인 생산성 향상을 통하여 원가경쟁력 제고에 노력하고 있습니다.  

ㄷ. 납기 경쟁력
일반 주문품의 경우 1주, 특별 사양의 주문품의 경우에도 2주 내에 개발 및 양산 체제를 갖추고 있어 국내경쟁사 2~4주, 해외경쟁사 6~8주 보다는 월등한 납기 경쟁력을 갖추고 있습니다.

ㄹ. 제품에 의한 차별화 전략
세계 반도체 시장은 기존 Test 설비의 Upgrade에 따라 신규 수요가 증가하며 차세대반도체 제품의 개발 양산에 따라 수요가 발생합니다. 따라서, 각 업체는 고객의 요구에 즉각 반응할 수 있는 신속한 제품 개발방식을 요합니다.  특히, 2010년 이후 모바일 시장의 급격한 성장으로 반도체 패키지 트렌드는 크기가 줄어들고 여러 칩들이 집적되는 형태의 패티지 수요가 크게 늘어나고 있으며 당사가 강점으로 가지고 있는 Silicone Rubber 소켓은 반도체 패키지 트렌드에 따라 가장 최근에 개발된 제품으로 시장이 요구하는 높은 전기적 특성과 가격경쟁력을 가진 제품이며, 이와함께 지속적으로 고객과 밀착된 기술마케팅과 첨단장비의 지속적인 투자를 통하여 고객요구에 대한 발빠른 제품개발 대응력을 키우고 있고, 나아가 고객 Needs를 선도하는 혁신적 제품의 개발을 통해 Total Solution Provider 로서의 입지를 강화하고 있습니다.

④ 규제 및 지원
반도체 장비산업의 경우 소비성 서비스업과는 달리 정부의 직접적인 규제를 받지 않으며 특별히 반도체산업에만 적용되는 법령은 없습니다. 정부는 반도체 장비산업과 같이 고부가가치의 벤처산업의 육성을 추진하고 있는바 정부로부터의 세제혜택을 받고 있습니다. 하지만 최근 들어 해외 수출 시에는  환경안전 관련하여 EU를 중심으로 유해화학물질에 대한 규제가 강화되고 있으며, UN 산하 UNEP에서도 환경문제를 무역장벽화하려는 움직임이 있어, 환경안전에 대한 기술개발 및 투자확대가 필요합니다.

⑤ 사업부 성장과정
제조사업부의 2001년 2월 창립시기에는 삼성에서는 차세대 Socket으로 고속화에 대응이 가능한 일본 제품을 양산 제조에 확산하는 시점이었습니다. 그러나 당사만의 고유 기술로 국내 첫번째이자 세계 두번째로 차세대 Test Socket인 ISC(Integrated Silicone Contactor)를 개발하여 삼성전자에 판매하기 시작하였으며, 설립 다음해부터는 품질에서 일본 제품을 앞지르고 전량 당사의 제품이 사용될 수 있게 되었으며 매년 급성장할 수 있는 계기가 되었습니다.
또한, 2014년 일본 JMT 지분및 원천특허 인수에 따른 사업영역 확대를 기대하고 있습니다.

3) 시장점유율
품별로는 반도체 메모리 및 모바일 IC (AP, LPDDR) 테스트 소켓 부분에서 세계 1위의 시장 점유율을 보이고 있으며, 반도체 IC Final 테스트 소켓 분야에서 국내 1위를 기록하고 있습니다.

4) 시장의 특성
소모성 및 부자재 성격의 사업이 고부가가치에도 불구하고, 첨단장비의 지속적인 설비투자와 지속적인 연구개발이 이루어져야 하며 주문자 생산방식의 소량 다품종 또는 대량 소품종으로 운영되어야 하기 때문에 동 사업에 진입의 난이도는 높습니다.  또한 스마트폰 등 모바일 산업의 지속적 성장과 그에 따른 신규 반도체 패키지의 개발에 따라 동 패키지 테스트 수요가 지속적으로 발생하고 있으며 향후 반도체 제품의 고집적도 구현을 위한 Shrink 기술이 발전하면서 테스트 수요도 동반해서 늘어 날 것으로 예상됩니다.

5) 신규사업 등의 내용 및 전망
2011년 5월 17일 정부에서 전략적으로 육성중이던 MEMS FAB(연 5억개 이상 양산이 가능한 국내 유일의 8인치 mems FAB 보유) 민영화에 참여하여 경영권을 획득하는 전략적 투자를 통해 미래 기술경쟁력 확보 및 신규 성장동력을 확보하였습니다. (2011.5.18 타법인주식 및 출자증권 취득결정 공시 참조)
MEMS 팹은 마이크로미터의 초미세 전자부품을 생산하는 라인으로 휴대폰의 움직임이나 자동차 충돌시 이를 감지하는 자이로센서(가속센서) 등 센서류를 생산하고 있습니다.
Silicone Rubber 방식의 반도체 Test Socket 분야에서 Global  1위인 당사에 이은 2위의 기업인 일본 JMT사의 지분 100% 및 실리콘러버 관련 특허 전부를 14년 2월 인수하였습니다. 독립적인 운영을 통해 상호보완적 성장을 기대하고 있습니다.

6) 조직도

이미지: 14-조직도

14-조직도



(2) 외식 사업부

1) 사업부 현황
당 부문은 보고서 작성기준일 현재 성남시 분당구 백현동 및 서울 강남구 삼성동에  일반 소비자를 대상으로 하는 매장을 가지고 사업을 영위하고 있습니다.  백합 및 고기를 원재료로 한 백합샤브샤브 등의 메뉴가 있습니다. 현재 전체 매출이나 자산규모는 미미한 상황이나 점차 실적개선을 해 나가고 있는 상황입니다.  

2) 자원조달상황
당 부문의 주요 원재료는 국내에서 조달하고 있으며, 조달에 큰 어려움은 없습니다.

3) 조직도

이미지: 14-조직도 (외식사업부)

14-조직도 (외식사업부)



(3) 중개 사업부

1) 사업부 현황
당 부문은 현재 미국에 법인이 설립되어 미주지역에서의 당사 제품 매출의 중개를 맡고 있습니다. 당 부문의 매출은 제조 사업부의 중개수수료로 발생되고 있습니다.

2) 자원조달상황
당 부문은 인적자원을 통해 영업 활동을 해 나가고 있습니다.


2. 주요 제품 및 원재료 등


가. 주요 제품 등의 현황

(단위 : 백만원)
사업부문 매출유형 품   목 구체적용도 주요상표등 매출액 (비율)
제조 제품/상품 Test Socket 반도체 Test ISC 외 36,050 (97.55%)
외식 백합 샤브샤브외 외식 너와집 906   (2.45%)
36,956   (100%)

주1) 상기 매출액은 기타 매출 (임대)을 제외한 매출금액입니다.

나. 주요 제품 등의 가격변동추이
제조부문의 제품은 고객의 주문에 따라 여러가지 형태로 나타날 수 있으며, 가격도 Pin 수 및 Pin 간의 Pitch등에 따라 달라질 수 있습니다. 고객에게 제공되는 단가는 고객의 원가절감요구에 따라 일정부분 단가인하가 진행되고 있지만, 자체적으로는 생산수율의 향상 및 다양한 원가절감 활동을 통하여 고객의 요구에 부응하고 있습니다.
반도체 테스트 장비의 발전에 따라 생산성 향상 및 신규 반도체 제품을 테스트할 수 있는 새로운 테스트 장비의 도입이 지속적으로 진행됨으로 인하여, 이에 필요한 끊임없는 연구개발력이 제품의 가격과 직접 연결됩니다.
외식부문은 일정한 메뉴를 바탕으로 소비자 (개인)에게 판매되고 있으며 주요 원재료의 가격 변동 및 메뉴 개발 노력등이 가격변동 요인이 됩니다.

다. 주요 원재료 등의 현황

(단위 : 백만원)
사업부문 매입유형 품   목 구체적용도 매입액(비율) 비   고
제조 원재료외 DFF외 제품생산 5,933 (98.21%) -
외식 백합 외 108   (1.79%) -
6,041   (100%) -


라. 주요 원재료 등의 가격변동추이
원재료 전량을 국내업체에서 공급받고 있으며 이에 공급업체의 제작단가변동 등의 요인이 원재료 구매단가 변동의 주요 원인입니다.


3. 생산 및 설비에 관한 사항

가. 생산능력 및 생산능력의 산출근거

(1) 생산능력

(단위 : 천개)
사업부문 품 목 사업소 제14기 1분기 제13기 제12기
제조 ISC 본사 846 2,059 1,869
합 계 846 2,059 1,869

주) 외식 사업부문은 생산능력 산출이 어려워 기재하지 않았습니다.

(2) 생산능력의 산출근거

(가) 산출방법 등
                                                                                                    (단위 : 천개)

구분 제14기 반기 제13기 제12기
생산일수 (日) 123 271 260
인당생산량 (ea./人) 80 80 91
생산총원 (人) 86 95 79
생산능력 (ea.) 846 2,059 1,869


① 산출기준

실제 생산일수와 총 투입인원, 인당 평균생산량을 기준으로 산출

② 산출방법

생산능력 = 생산일수 x 인당생산량 x 생산총원

(나) 평균가동시간

일평균 : 8시간 가동

나. 생산실적

(단위 : 천개)
사업부문 품 목 사업소 제14기 1분기 제13기 제12기
제조 Test Socket 본사 913 814 781
합 계 913 814 781

주) 외식 사업부문은 생산실적 산출이 어려워 기재하지 않았습니다.

다. 생산설비의 현황 등
제조부문은 성남시 중원구 소재의 본점과 안산시 단원구 소재의 에칭공장을 운영하고 있으며, 일본 사이타마현 히다카시에 JMT 공장이 있습니다. ISC 성남 본점 및 일본 JMT에서 각종 기계장치 및 설비를 이용하여 제품을 생산하고 있으며 에칭공장에서는 제품의 도금 업무를 담당하고 있습니다.
외식부문은 성남시 분당구 및 서울 강남구 삼성동 소재 매장 2곳을 운영하고 있습니다.


4. 매출에 관한 사항

가. 매출실적

(단위 : 백만원)
사업
부문
매출
유형
품 목 제14기 반기 제13기 제12기
제조 제품 Test Socket,
Pin외
수 출 18,009 24,341 20,262
내 수 17,597 30,312 30,811
합 계 35,606 54,653 51,073
상품 Spring 외 수 출 72 22 15
내 수 372 51 19
합 계 444 73 34
기타 임대 수 출 - - -
내 수 274 580 575
합 계 274 580 575
외식 제품 샤브샤브 외 내 수 842 1,415 1,279
상품 음료 외 내 수 63 103 93
중계 - 중계 내 수 615 - -
합 계 수 출 18,081 24,363 20,277
내 수 19,763 32,461 32,777
합 계 37,844 56,824 53,054

주) 14. 반기현황은 사업단위간 내부거래 제외전 자료입니다.
      (내부거래 제외후 매출액 37,109 백만원)

나. 판매경로 및 판매방법 등

(1) 판매조직

이미지: 14-조직도 (영업조직도)

14-조직도 (영업조직도)


(2) 판매경로

사업부문 제품 구  분 비   고
제조 반도체
테스트
소켓
수출 미주지역 본사/일본 해외 영업팀 및 해외
대리점, 중국지사를 통한 직수출
동남아시아
중국 (SESS, Sandisk외)
내수 삼성전자 본사 및 천안지사 영업팀을 통한 판매
SK 하이닉스 외
외식 백합 샤브샤브외 내수 일반 소비자 (개인) 매장에서 직접 판매
중개 - - 미주지역 매출 중개


(3) 판매방법 및 조건

제조부문의 새로운 고객에 대한 신규 시장진입의 경우는 고객사의 양산 라인에서 직접 테스트를 하고 고객으로부터 양산에 적합하다는 판정을 받은 후에 비로소 매출로 연결되는 경우가 대부분이며, 일부 고객은 조건부로 발주를 진행하기도 합니다. 이미 개발된 제품의 경우에는 고객의 주문에 따라 바로 설계 및 생산에 들어가며 납품은 1주일 이내에 이루어 집니다. 수출은 본사 해외영업팀에 의하여 직접 수출되고 있습니다.  판매조건은 내수인 경우 납품 후 통상 1~2개월 이내의 현금으로 결제가 이루어지고 있습니다. 수출의 경우는 선적 후 대부분 2개월 이내에 현금결제가 이루어지고 있습니다.
외식부문의 경우 매장 내방 고객에게 직접 판매되고 있으며, 현금 또는 신용카드를 이용한 결제가 이루어지고 있습니다.


(4) 판매전략

 ① 기존고객에 대한 시장방어 및 확산
  ② 신규고객개척을 통한 고객다변화
  ③ 해외시장개척 주력
  ④ 신제품의 시장조기진입추진
  ⑤ 제품의 특화마케팅


5. 수주상황

   테스트 소켓의 납기는 최소 2~3일에서 최장 2~3주일로 고객의 필요 시기에 맞게 수주가 진행되어 수시로 납품되고 있으며, 통상 당사가 소속해 있는 반도체 산업의 특성상 1/4분기 및 4/4분기 매출이 상대적으로 떨어지는 계절적 변동요인을 가지고 있습니다


6. 위험관리

연결회사는 신용위험, 유동성 위험과 시장위험(환율변동위험, 이자율변동위험)에 노출되어 있으며, 연결회사의 전반적인 위험관리는 연결회사의 재무성과에 잠재적으로불리할 수 있는 효과를 최소화하는데 중점을 두고 있습니다. 재무위험관리는 연결회사의 재무부문에 의해 이루어지고 있으며, 각 업무 부서들과 긴밀히 협력하여 금융위험을 식별, 평가 및 회피하고 있습니다.

재무위험관리의 대상이 되는 연결회사의 금융자산은 현금 및 현금성자산, 매출채권 및 기타채권, 매도가능금융자산 등으로 구성되어 있으며, 금융부채는 매입채무 및 기타채무, 단기차입금, 장기차입금 등으로 구성되어 있습니다.

(1) 시장위험
시장위험은 시장가격의 변동으로 인하여 금융상품의 미래현금흐름에 대한 공정가치가 변동될 위험입니다. 시장위험은 이자율위험, 환위험 및 기타 가격위험의 세 유형의 위험으로 구성됩니다.

가. 이자율위험

이자율 위험은 미래 시장이자율 변동에 따라 예금 또는 차입금 등에서 발생하는 이자비용이 변동될 위험으로서 이는 주로 변동금리부 조건의 차입금과 예금에서 발생하고 있습니다. 연결회사의 이자율위험관리의 목표는 이자율 변동으로 인한 불확실성과 순이자비용의 최소화를 추구함으로써 기업의 가치를 극대화하는데 있습니다.


이를 위해 근본적으로 내부 자금 공유 확대를 통한 외부차입 최소화, 고금리 차입금 감축, 장/단기 차입구조 개선, 고정 대 변동이자 차입조건의 적정비율 유지, 주간/월간 단위의 국내외 금리동향 모니터링 실시 및 대응방안 수립 등을 통해 선제적으로 이자율 위험을 관리하고 있습니다.


연결회사는 보고기간종료일 현재 순차입금 상태로 이자율 상승에 따라 순이자 비용이 증가할 위험에 일부 노출되어 있으나, 내부적으로 변동금리부 조건의 차입금과 예금을 적절히 운영함으로써 이자율 변동에 따른 위험을 최소화하고 있습니다.

당반기말과 전기말 현재 다른 모든 변수가 일정하고 이자율이 100bp 변동시 변동금리부 차입금에서 발생하는 이자비용의 영향은 다음과 같습니다.

(단위 : 천원)
구 분 당반기 전기
100bp 상승시 100bp 하락시 100bp 상승시 100bp 하락시
이자비용 1,669 (1,669) 16,500 (16,500)


나. 환위험
환위험은 환율변동으로 인하여 금융상품의 미래현금흐름에 대한 공정가치가 변동될 위험입니다. 연결회사는 해외 영업활동 등으로 인하여 USD 등의 환위험에 노출되어 있습니다. 보고기간종료일 현재 기능통화 이외의 외화로 표시된 화폐성자산 및 부채의 장부금액은 다음과 같습니다.


(단위 : 천원)
구분 당반기 전기
USD EUR JPY 합계 USD EUR JPY 합계
외화금융자산 14,844,367 1 136,133 14,980,501 11,832,795 1 168 11,832,964
외화금융부채 607,129 - 11,482 618,611 278,169 - 2,260 280,429


연결회사는 내부적으로 원화 환율 변동에 대한 환위험을 정기적으로 측정하고 있습니다. 보고기간종료일 현재 각 외화에 대한 기능통화의 환율 5% 변동시 환율변동이 당기손익에 미치는 영향은 다음과 같습니다.


(단위 : 천원)
구분 당반기 전기
5% 상승시 5% 하락시 5% 상승시 5% 하락시
외화금융자산 749,025 (749,025) 591,648 (591,648)
외화금융부채 (30,931) 30,931 (14,021) 14,021
순효과 718,094 (718,094) 577,627 (577,627)


상기 민감도 분석은 보고기간종료일 현재 기능통화 이외의 외화로 표시된 화폐성 자산 및 부채를 대상으로 하였습니다.


다. 기타 가격위험
기타 가격위험은 이자율위험이나 환위험 이외의 시장가격의 변동으로 인하여 금융상품의 공정가치나 미래현금흐름이 변동할 위험이며, 당반기말 현재 연결회사의 자산 중 이러한 가격위험에 노출되어 있는 자산은 없습니다


(2) 신용위험
신용위험은 보유하고 있는 수취채권 및 확정계약을 포함한 거래처에 대한 신용위험뿐 아니라 현금및현금성자산, 금융연결회사 예치금으로부터 발생하고 있습니다. 금융연결회사의 경우, 독립적인 신용평가기관으로부터의 신용등급이 투자적격등급 이상인 경우에 한하여 거래를 하고 있습니다. 거래처의 경우 고객의 재무상태, 과거경험 등 기타 요소들을 고려하여 신용을 평가하고 있습니다.


가. 매출채권및기타채권
연결회사는 신용거래를 희망하는 모든 거래상대방에 대하여 신용상태가 건전한 거래상대방과의 거래만을 수행하고 있습니다. 또한, 대손위험에 대한 연결회사의 노출정도가 중요하지 않은 수준으로 유지될 수 있도록 매출채권및기타채권 잔액에 대한 지속적인 관리업무를 수행하고 있습니다. 연결회사의 대손위험에 대한 최대 노출정도는 다음과 같습니다.

(단위 : 천원)
구분 당반기 전기
매출채권 14,874,866 7,536,982
기타채권 11,330,004 6,408,523
합 계 26,204,870 13,945,505


연결회사는 상기 채권에 대해 매 보고기간말에 개별적 또는 집합적으로 손상여부를 검토하고 있습니다.


나. 기타의 자산
현금, 단기예금 등으로 구성되는 연결회사의 기타의 자산으로부터 발생하는 신용위험은 거래상대방의 부도 등으로 발생합니다. 이러한 경우 연결회사의 신용위험 노출정도는 최대 해당 금융상품 장부금액과 동일한 금액이 될 것입니다. 한편, 연결회사는 기업은행 등의 금융기관에 현금및현금성자산 및 금융상품 등을 예치하고 있으며, 신용등급이 우수한 금융기관과 거래하고 있으므로 금융기관으로부터의 신용위험은 제한적입니다.

(3) 유동성위험

유동성위험은 연결회사 경영 환경 또는 금융시장의 악화로 인해 연결회사가 부담하고 있는 단기 채무를 적기에 이행하지 못할 위험으로 정의합니다.

연결회사는 유동성위험을 선제적으로 관리하기 위해 현금흐름 및 유동성 계획 등에 대해 주기적으로 예측하고 이에 따른 대응방안을 수립하고 있습니다.


(4) 자본관리
자본관리의 주 목적은 연결회사의 영업활동을 유지하고 주주가치를 극대화하기 위하여 높은 신용등급과 건전한 자본비율을 유지하기 위한 것입니다.

연결회사는 자본구조를 경제환경의 변화에 따라 수정하고 있으며, 이를 위하여 배당정책을 수정하거나 자본감소 혹은 신주발행을 검토하도록 하고 있습니다. 한편, 기중자본관리의 목적, 정책 및 절차에 대한 어떠한 사항도 변경되지 않았습니다.

기타 자세한 사항은 첨부된 연결 및 별도 검토보고서의 주석중 위험관리 부분을 참조하시기 바랍니다.


7. 경영상의 주요계약 등

계약 상대방 계약의 목적 및 내용 계약상의 주요내용
이촌회계법인 세무조정 세무조정 계약
외부감사계약서 외부감사 계약
Transcend 해외 영업 Agent 계약 해외거래처 영업 및 관리 대행
유테크필리핀코프레이션 해외 영업 Agent 계약 해외거래처 영업 및 관리 대행



8. 연구개발활동

가. 연구개발활동의 개요

(1) 연구개발 담당조직

이미지: 14-연구조직도

14-연구조직도


(2) 연구개발비용

(단위 : 백만원)
과       목

제14기
반기

제13기

제12기 비 고
원  재  료  비 - - - -
인    건    비 1,043 2,761 2,261 -
위 탁 용 역 비 - - - -
기            타 674 2,131 1,022 -
연구개발비용 계 1,717 4,892 3,283 -
회계처리 판매비와 관리비 - - - -
제조경비 1,717 4,892 3,283 -
개발비(무형자산) - - - -
연구개발비 / 매출액 비율
[연구개발비용계÷당기매출액×100]
5% 9% 6% -


나. 연구개발 실적

연구과제 Lead Type Package용 Test Socket 개발
연구기관 ISC Technology 기술연구소
 연구 결과 및 기대효과
- Flash Memory, DDR Memory 등 TSOP package에 대한 test solution으로서 기존의 spring
   pin type과는 차별화된 강도가 높은 사각핀을 사용함으로써 pin의 파손, 이탈, 도금 마모
  등에 의한 수명 저하 문제가 해결되었으며 특히 사각형 핀을 사용함으로써 device lead와
  접촉할 수 있는 면적이 spring pin type보다 넓어 안정적인 접촉을 유지함.
상품화 내용 48TSOP (Nand Flash Memory), 66TSOP (DDR Memory)
연구과제 전도성 silicone rubber를 이용한 fine pitch contactor 개발
 연구 결과 및 기대효과
- 제품의 개발 방향이 경박단소해짐에 따라 BGA device의 solder ball 배열의 주류가 0.8mm
   pitch에서 0.5mm pitch로 축소 되었고 이에 따른 Test socket에 필요에 따라 0.5mm pitch
   용 socket이 개발 되었음.
- Rubber 소재를 사용하기 때문에 solder ball에 손상이 발생하지 않아 테스트 회수가 많이
  요구되는 제품에 특히 장점으로 작용함
상품화 내용 44FBGA, 121FBGA 등 MCP 제품 및 BGA 형태의 제품
연구과제 전도성 silicone rubber를 이용한 cycling test socket 개발
 연구 결과 및 기대효과
- Cycling Test (Burn-in Test)의 test 온도가 증가하는 추세에 있으며 이에 따라 고온에서
   test 할 경우 solder ball의 경도가 낮아져 gripper type socket을 사용할 경우 solder ball에
   손상이 발생한다. 이에 대한 해결책으로 Rubber 소재를 사용한 socket이 개발되었으며
   날카로운 gripper type의 pin에 의한 손상과 같은 현상이 발생하지 않음.
상품화 내용 BGA MCP 제품군
연구과제 Probe card Interposer 개발
 연구 결과 및 기대효과
- Wafer의 크기가 증가함에 따라 Probecard의 크기도 증가하고 있으며 Probecard의 크기가
   증가함에 따라 Probe의 고정과 전기적 연결을 위한 세라믹 기판도 커지는 추세에 있는데
   세라믹 기판이 커질 경우 조립 상태에서 변형이 발생하여 문제가 된다. 변형을 방지하기
   위한 해결책으로는 세라믹 기판의 두께를 증가시키거나 세라믹 기판에 가해지는 힘을
   줄이는것이 있는데 세라믹기판의 두께 증가에는 한계가 있으므로 세라믹 기판에 가해지는
    힘을 줄여야 한다. 이에 대한 해결책으로 Rubber 소재의 interposer가 개발되었음
연구과제 전도성 silicone rubber를 이용한 High Frequency Test Socket 개발
 연구 결과 및 기대효과
- RF device에 대한 test solution으로 전도성 rubber를 이용한 제품이 개발되었으며 기존의
  spring pin type, 또는 pin type에 비하여 매우 짧은 current length를 형성하여 socket에 의한
  신호의 손상을 최소화 하였음.- Device의 작동 주파수는 증가하는 추세에 있으며 이에 대한
  test solution으로 spring pin type은 구조의 복잡성으로 인하여 길이 단축에 한계가 있다.
상품화 내용 Bluetooth 제품, HF Device
연구과제 HF 용 Module RAM Test Socket 개발
 연구 결과 및 기대효과
- DDR memory의 주파수 증가에 따라 현재 사용되고 있는 제품은 socket 수명저하, test 수율
  저하 등의 문제를 가지고 있다. 이에 대한 solution으로 Pin과 전도성 spring을 이용한
  solution이 개발되었으며 DDR2제품에서 안정적으로 작동됨이 확인 되었음.
상품화 내용 200SODIMM, 240UDIMM
연구과제 QFN, QFP Package 용 Test socket 개발
 연구 결과 및 기대효과
- QFN, QFP package의 land, lead는 도금 재질이 Sn 이외에 Ni로 되어 있고, 경도가 Sn
   보다 높아 기존 ISC socket의 soft한 contact pad로는 Ni 도금 산화층을 뚫고 contact하기가
   어렵고, 제품의 수명이 50k 이하로 부족함. Top pad를 고경도 수지와 전도성 powder로
   형성하여 Ni, Fe 계열 frame 등의 경도가 높은 단자의 contact에 용이한 pad를 개발하였고,
   내구성이 우수하여 100k 이상의 높은 수명으로 양산화에 성공함.
상품화 내용 48QFN, 56QFN, 100TQFP
연구과제 PdCo 도금 contact pad 개발
 연구 결과 및 기대효과
- BGA test 용 socket의 일반적인 도금은 Au로 ball 접촉시 저항이 낮고, 산화가 되지 않아
   온도 습도에 안정한 도금 재질로 많이 사용하고 있지만, ball 성분인 Sn이 Au의 표면에
   전이되어 접촉 저항이 증가함에 따라 socket의 수명이 짧아짐. PdCo는 Au 대비 경도가
   3배 이상 높고, Sn의 전이가 일어나지 않아 접촉 저항의 증가가 적어 test socket의 수명이
   약 2배 향상됨.
상품화 내용 DDR3 제품(78FBGA, 96FBGA)
연구과제 미세 Pitch(0.5P이하) Package Test Solution 개발 (SI : Socket Insert)
 연구 결과 및 기대효과
- PoP Package와 같은 미세 Pitch Test Solution으로서 미세 Pitch Test에 있어 가장 큰 문제
   점인 Package Ball과 Socket간의 align Miss에 의한 Contact Fail을 줄이기 위해 Package를
   이동시키는 Insert(Carrier)에 Interposer를 부착하여 Package 낙석으로 부터 Socket의
   파손을 줄이고 Package와 Socket간의 Align Miss를 줄여 전체적으로 안정적인 Test
상품화 내용 240FBGA(MCP), 136BOC(GDDR3), 66TSOP(DDR)
연구과제 전도성 Silicone Rubber를 이용한 B2C Interposer 개발
 연구 결과 및 기대효과
- Burn In Board 및 System Board에 사용되는 CPU 및 GPU Chip은 현재 Board에 Solder를
   이용하여 SMT 하여 사용함. 그러나 Board의 이송중에 상기 Chip 들의 파손으로 인해
   Board를 repair 하는데 소요되는 시간이 많이 걸리고 또한, Resoldering중에 파손 발생.
   개발과제로  Chip과 Board 사이에 사용할 Interposer 개발로 Soldering 하지 않아도 되므로
   board의 파손방지 및 Repair 시간 단축 효과 발생
상품화 내용 676FPBGA, 989FCBGA
연구과제 전도성 Silicone Rubber를 이용한 Scramble Socket 개발
 연구 결과 및 기대효과
- Package 신규 개발시 이를 Test 하기위한 COK, Socket 및 Hifix Board 신규투자 필요.    
   Test 수량이 많지 않을 경우 투자대비 손실 발생됨. 따라서 투자비를 최소화 하기 위해
    Hifix board를  기존품으로 사용하기 위해서 Socket 내부에 회로를 변경할 수 있는 PCB를
   삽입한 Socket 개발로 고객사  신규 투자비 감소
상품화 내용 52ULGA->48TSOP(Nand Flash)
연구과제 Logic 대응Socket 개발
 연구 결과 및 기대효과

- 마트 폰 및 각종 휴대기기 수요증가로 인하여 Logic용 Package 수요와 종류가 증가
   하면서 생산성 증대 목적으로 장비 Para확장, 장비투자 또한  필요.

  그에 따라 발생하는 문제점으로 장비 Pusher간 편차에 대응이 가능한 Socket이 필요함에
   따라 Pogo에 장점과 Rubber에 장점을 하나로 통합한 Socket이 필요함.

  Pogo의 장점인 높은 Stroke, Package를 Guide하는 Floating Guide 기능과 Rubber의 장점인   Contact 안정성, no Ball Damage, 현장에 손쉬운 Repair, 작업성이 용이한 구조를 통합한
   F/G SPS Socket 개발을 완료 양산화에 성공

상품화 내용 F/G SPS
연구과제 Pin과Rubber가 결합된 제품 개발
 연구 결과 및 기대효과

- Pogo Socket에 경우 pin 길이가 낮아질수록 생산성 및 제작 비용이 상승한다.

  하지만, Device Test Speed가 증가함에 따라 High Speed 대응 Socket으로 Socket 높이
   줄여서 개발하여 진행하고 있습니다.

  Rubber Socket에 경우 pitch별 차이가 있지만, 1mm 이상 높이의 socket을 제작하는 생산
    및 특성 부분에 문제가 발생한다. 여기서 Pogo Top Pin과Rubber를 결합하여 고객이
    원하는 높이 대응 및High Speed 대응에 가능하도록 개발 되었음

상품화 내용 BGA 대응용 PR Type(Pin+Rubber) - DDR378,84FBGA



9. 기타 투자의사결정에 필요한 사항
- 사업과 관련된 중요한 지적재산권(특허권) 등

구분 종류 등록번호 등록일 고안의 명칭
1 특허권

10-362145

2002-11-11 도체 접촉부 표면구조 및 표면처리 방법
2 특허권 10-395788 2003-08-12 실리콘 고무 스프링 포고핀의 구조 및 제조 방법
3 특허권 10-448414 2004-09-02 집적화된 실리콘 콘택터 및 그 제작 장치와 제작 방법
4 특허권 10-721587 2007-05-17 전자부품의 검사를 위한 콘택터
5 특허권 10-767447 2007-10-09

반도체 디바이스 운반체

6 특허권 10-797406 2008-01-17 이방 도전성 시트
7 특허권 10-807985 2008-02-21 반도체 디바이스의 냉각장치
8 특허권 10-823873 2008-04-15 테스트 소켓
9 특허권 10-845115 2008-07-03 테스트 소켓
10 특허권 10-105662 2009-02-18 메모리 모듈의 검사장치
11 특허권 10-016980 2009-05-13 인테나 연결장치
12 특허권 10-024406 2009-05-13 고주파 인터포저
13 특허권 10-105557 2009-05-18 카메라 모듈 테스트용 소켓
14 특허권 10-907337 2009-07-03 테스트용 소켓
15 특허권 10-926776 2009-11-06 테스트용 소켓의 제작방법
16 특허권 10-926777 2009-11-06 돌출도전부가 도전패드에 마련된 테스트 소켓
17 특허권 10-942158 2010-02-05 박막형 커넥터
18 특허권 10-952712 2010-04-06 판형 도전입자를 포함한 실리콘 콘택터
19 특허권 10-953444 2010-04-09 스프링 접착형 테스트소켓 및 그 소켓의 제작방법
20 특허권 10-968622 2010-06-30 테스트용 소켓 및 그 소켓의 제작방법
21 특허권 10-972662 2010-07-21 눌림방지부재를 가진 테스트소켓
22 특허권 10-988304 2010-10-11 탄성 도전시트 및 그 탄성도전시트의 제조방법
23 특허권 10-988303 2010-10-11 내구성이 향상된 테스트 소켓용 판부재 및 그 판부재의 제조방법
24 특허권 10-998356 2010-11-29 열전달시트 및 그 열전달시트의 제조방법
25 특허권 10-1004296 2010-12-21 전도성 와이어를 가진 테스트 소켓
26 특허권 10-1004297 2010-12-21 스프링 조립체 및 그를 이용한 테스트 소켓
27 특허권 10-1004298 2010-12-21 이방성 커넥터를 구비한 연결소켓
28 특허권 10-1009751 2011-01-13 LED용 전기적 검사장비
29 특허권 10-1013986 2011-02-01 테스트 소켓
30 특허권 10-1019720 2011-02-25 도전체가 패드에 밀착될 수 있는 테스트소켓
31 특허권 10-1019721 2011-02-25 기둥형 입자를 가지는 테스트 소켓
32 특허권 10-1025027 2011-03-18 이중 스프링 및 그를 포함한 테스트 소켓
33 특허권 10-1032646 2011-04-26 박막형 연결체
34 특허권 10-1032647 2011-04-26 핸들러용 인서트
35 특허권 10-1032648 2011-04-26 테스트용 소켓
36 특허권 10-1037786 2011-05-23 스프링 내부에 도전성 와이어가 삽입된 테스트 소켓 및 그 테스트 소켓의 제작방법
37 특허권 10-1037787 2011-05-23 매개부재의 제조방법 및 그 제조방법에 의해 제조된 매개부재
38 특허권 10-1042374 2011-06-10 매개부재의 제조방법 및 그 제조방법에 의해 제조된 매개부재
39 특허권 10-1042373 2011-06-10 인테나의 전기적 접속수단 및 그 제조방법
40 특허권 10-1047550 2011-07-01 탐침부를 가지는 도전성 접속부재 및 그 도전성 접속부재를 제조하는 방법
41 특허권 10-1059961 2011-08-22 도전성 접속체
42 특허권 10-1076475 2011-10-18 테스트용 핸들러
43 특허권 10-1076476 2011-10-18 테스트용 소켓
44 특허권 10-1099501 2011-12-21 테스트 소켓, 전기적 연결장치 및 그 테스트 소켓의 제조방법
45 특허권 10-1099502 2011-12-21 내마모성이 우수한 도체 접촉부 및 그 도체 접촉부의 제조방법
46 특허권 10-1112766 2012-01-30

반도체 테스트용 푸셔장치

47 특허권 10-1122744 2012-02-24 꼭지점이 마련된 전극을 가지는 시트형 콘택터
48 특허권 10-1138963 2012-04-16 테스트 소켓 및 그 테스트 소켓의 제조방법
49 특허권 10-1138964 2012-04-16 테스트 소켓
50 특허권 10-1145886 2012-05-17 전기적 접속체 및 그 전기적 접속체를 포함한 테스트 소켓
51 특허권 10-1151880 2012-05-24 시트형 접속체, 그 시트형 접속체의 제조방법 및 테스트 소켓
52 특허권 10-1168035 2012-07-17 대전류 공급용 콘택터
53 특허권 10-1168036 2012-07-17 반도체 패키지용 검사소켓
54 특허권 10-1204939 2012-11-20 검사용 시트 및 그 검사용 시트의 제조비용
55 특허권 10-1204940 2012-11-20 전기적 콘택터 및 전기적 콘택터의 제조방법
56 특허권 10-1204941 2012-11-20 전극지지부를 가지는 테스트용 소켓 및 그 테스트용 소켓의 제조방법
57 특허권 10-1218348 2012-12-27 반도체 패키지용 인서트
58 특허권 10-1246301 2013-03-22 미세선형체가 마련된 테스트용 소켓
59 특허권 10-1247722 2013-03-20 검사용 시트의 제조방법
60 특허권 10-1256994 2013-04-16 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓
61 특허권 10-1266122 2013-05-14 검사용 탐침장치 및 그 검사용 탐침장치의 제조방법
62 특허권 10-1266123 2013-05-14 스프링부재를 포함하는 테스트용 러버소켓
63 특허권 10-1266124 2013-05-14 고밀도 도전부를 가지는 테스트용 소켓 및 그 제조방법
64 특허권 10-1284210 2013-07-03 검사용 커넥터, 검사용 소켓, 검사용 커넥터의 제조방법 및 검사용 소켓의 제조방법
65 특허권 10-1284211 2013-07-03 핸들러용 인서트
66 특허권 10-1284212 2013-07-03 위치정렬이 용이한 테스트용 소켓
67 특허권 10-1286722 2013-07-10 탐침장치의 접촉팁, 탐침장치 및 탐침장치를 제조하는 방법
68 특허권 10-1312079 2013-09-26 프로브 유니트 조립체 및 이를 이용한 평판 표시 장치의 검사 방법
69 특허권 10-1330198 2013-11-11 검사용 탐침장치 및 검사용 탐침장치를 제조하는 방법
70 특허권 10-1339165 2013-12-03 메쉬시트를 가진 핸들러용 인서트 및 핸들러용 인서트
71 특허권 10-1339166 2013-12-03 관통공이 형성된 도전성 입자를 가지는 검사용 소켓 및 그 제조방법
72 특허권 10-1339167 2013-12-03 테스트용 소켓
73 특허권 10-1339168 2013-12-03 검사용 소켓의 제조방법
74 특허권 10-1348204 2013-12-30 테스트 소켓 및 소켓본체
75 특허권 10-1348205 2013-12-30 탐침장치
76 특허권 10-1348206 2013-12-30 복수의 스프링부재를 가지는 탐침장치
77 특허권 10-1350413 2014-01-06 도전성 파우더의 제조방법
78 특허권 10-1353481 2014-01-14 고밀도 도전부를 가지는 테스트용 소켓
79 특허권 10-1366171 2014-02-17 고밀도 도전부를 가지는 테스트용 소켓
80 특허권 10-1371173 2014-02-28 테스트 소켓
81 특허권 10-1392399 2014-04-29 테스트용 번인 소켓
82 특허권 10-1392400 2014-04-29 피검사 디바이스의 검사를 위한 푸셔장치
83 특허권 10-1393601 2014-05-02 도전성 커넥터 및 그 제조방법
84 특허권 10-1396377 2014-05-12 반도체 검사용 소켓의 판형 검사용 콘택터
85 특허권 10-1419364 2014-07-08 핸들러용 인서트
86 특허권 10-1419365 2014-07-08 도전성 파우더의 제조방법
87 실용신안권 20-368618 2004-11-15 반도체소자 캐리어 겸용 테스트보드
88 실용신안권 20-372746 2005-01-03 SOP용 소켓 콘택터
89 실용신안권 20-383920 2005-05-02 실리콘 콘택터를 이용한 고주파 코넥터
90 실용신안권 20-388548 2005-06-22 미소피치 콘택터
91 실용신안권 20-388968 2005-06-28 가이드핀과 가이드홀을 이용한 위치정렬 장치
92 실용신안권 20-394112 2005-08-22 실리콘 콘택터를 이용한 반도체 테스트용 소켓 하우징
93 실용신안권 20-404628 2005-12-20 개량된 기판연결 장치
94 실용신안권 20-407870 2006-01-27 반도체소자 테스트소켓용 수직형 콘택터
95 실용신안권 20-408975 2006-02-09 이중 탄성구조를 갖는 반도체소자 테스트소켓용 수직형콘택터
96 실용신안권 20-414883 2006-04-19 반도체소자 캐리어 유닛
97 실용신안권 20-427407 2006-09-20 실리콘 콘택터
98 실용신안권 20-443562 2009-02-18 반도체 테스트용 소켓하우징
99 실용신안권 20-443874 2009-03-12 반도체 소자의 온도측정장치
100 실용신안권 20-444773 2009-06-04 실리콘 콘택터
101 실용신안권 20-445395 2009-07-17 도전성 콘택터
102 실용신안권 20-445574 2009-08-16 전기적 검사장치
103 실용신안권 20-446269 2009-10-06 갭부재를 가진 테스트소켓
104 실용신안권 20-447400 2010-01-13 고주파용 테스트 소켓
105 실용신안권 20-448254 2010-03-19 포고핀
106 실용신안권 20-449396 2010-06-30 매개기판을 가진 테스트 소켓
107 실용신안권 20-457612 2011-12-21 핸들러용 인서트 및 핸들러

주) 14년 상반기 JMT 인수에 따른 다수의 특허권에 대한 명의 이전이 진행중입니다


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  3. 삼성바이오로393,500▲
  4. 아난티12,700▲
  5. 삼성전자40,300▲